評(píng)價(jià)和分析產(chǎn)品壽命特征的試驗(yàn)稱(chēng)為壽命試驗(yàn)。對(duì)于大部分電子產(chǎn)品，壽命是主要的一個(gè)可靠性特征量。因此，可靠性試驗(yàn)往往指的就是壽命試驗(yàn)。壽命試驗(yàn)可分為非工作狀態(tài)的存儲(chǔ)壽命試驗(yàn)和工作狀態(tài)的工作壽命試驗(yàn)兩類(lèi)。為了縮短試驗(yàn)周期、減少樣品數(shù)量和試驗(yàn)費(fèi)用，常常采用加速壽命試驗(yàn)。在不改變產(chǎn)品的失效機(jī)理和增添新的失效因子的前提下，提高試驗(yàn)應(yīng)力（相對(duì)于工作狀態(tài)的實(shí)際應(yīng)力或產(chǎn)品的額定承受應(yīng)力），以加速產(chǎn)品的失效過(guò)程。

一、根據(jù)試驗(yàn)中應(yīng)力施加方式的不同，又可分為：

①在試驗(yàn)過(guò)程中應(yīng)力保持不變的恒定應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)；

②試驗(yàn)過(guò)程中應(yīng)力逐級(jí)步進(jìn)式增加的步進(jìn)應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)；

③試驗(yàn)過(guò)程中應(yīng)力連續(xù)增加的序進(jìn)應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)。 　　

二、由于壽命試驗(yàn)費(fèi)時(shí)較多，通常不待受試樣品全部失效就要結(jié)束，即大部分壽命試驗(yàn)都是截尾試驗(yàn)。根據(jù)試驗(yàn)截尾方式（固定試驗(yàn)時(shí)間或固定試驗(yàn)中失效樣品數(shù)）和受試樣品失效后有無(wú)替換，壽命試驗(yàn)可分為四種：

①無(wú)替換定時(shí)截尾試驗(yàn)；

②有替換定時(shí)截尾試驗(yàn)；

③無(wú)替換定數(shù)截尾試驗(yàn)；

④有替換定數(shù)截尾試驗(yàn)。在電子產(chǎn)品壽命試驗(yàn)中，常用的壽命分布為指數(shù)分布、威布爾分布和對(duì)數(shù)正態(tài)分布。常用的壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析方法有概率紙圖解法、大似然估計(jì)法、佳線(xiàn)性無(wú)偏估計(jì)法、佳線(xiàn)性不變估計(jì)法等。所謂篩選，就是設(shè)法除去在材料、元件、器件、設(shè)備、系統(tǒng)等方面潛在的不良因素和缺陷，而把優(yōu)良的產(chǎn)品挑選出來(lái)。采用外加應(yīng)力或其他手段將成品中潛在的早期失效產(chǎn)品剔除的試驗(yàn)稱(chēng)為可靠性篩選。

三、外加應(yīng)力可以是熱應(yīng)力、電應(yīng)力、機(jī)械應(yīng)力或者幾種應(yīng)力的組合，篩選應(yīng)力大小和作用時(shí)間的選取原則是：

①針對(duì)產(chǎn)品的主要失效機(jī)理；

②所用的應(yīng)力對(duì)于良好的產(chǎn)品應(yīng)無(wú)破壞作用，而對(duì)于有缺陷的產(chǎn)品應(yīng)能使缺陷很快暴露；

③根據(jù)用途、成本、產(chǎn)品批量大小和試驗(yàn)設(shè)備等條件統(tǒng)一考慮，力求佳的經(jīng)濟(jì)效果；

④充分調(diào)查，收集數(shù)據(jù)，掌握產(chǎn)品的失效分布和失效機(jī)理，才能確定合理的篩選項(xiàng)目。

四、常見(jiàn)的篩選方法有:

①目檢（顯微鏡鏡檢、X射線(xiàn)照相、紅外掃描等）；

②電性能測(cè)試；

③密封檢漏；

④環(huán)境應(yīng)力篩選（恒定加速、機(jī)械振動(dòng)、沖擊、溫度循環(huán)、熱沖擊等）；

⑤壽命篩選（高溫儲(chǔ)存、功率老化、高溫反偏等）。

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